㈠ 放射性測量方法
放射性測量方法按放射源不同可分為兩大類:一類是天然放射性方法，主要有γ測量法、α測量法等;另一類是人工放射性方法，主要有X射線熒光法、中子法等。表7.1給出了幾種放射性測量方法的簡單對比。
7.1.2.1 γ測量
γ測量法是利用輻射儀或能譜儀測量地表岩石或覆蓋層中放射性核素產生的γ射線，根據射線能量的不同判別不同的放射性元素，而根據活度的不同確定元素的含量。γ測量可分為航空γ測量、汽車γ測量、地面(步行)γ測量和γ測井，其物理基礎都是相同的。
根據所記錄的γ射線能量范圍的不同，γ測量可分為γ總量測量和γ能譜測量。
(1)γ總量測量
γ總量測量簡稱γ測量，它探測的是超過某一能量閾值的鈾、釷、鉀等的γ射線的總活度。γ總量測量常用的儀器是γ閃爍輻射儀，它的主要部分是閃爍計數器。閃爍體被入射的γ射線照射時會產生光子，光子經光電倍增管轉換後，成為電信號輸出，由此可記錄γ射線的活度。γ輻射儀測到的γ射線是測點附近岩石、土壤的γ輻射、宇宙射線的貢獻以及儀器本身的輻射及其他因素的貢獻三項之和，其中後兩項為γ輻射儀自然底數(或稱本底)。要定期測定儀器的自然底數，以便求出與岩石、土壤有關的γ輻射。岩石中正常含量的放射性核素所產生的γ射線活度稱為正常底數或背景值，各種岩石有不同的正常底數，可以按統計方法求取，作為正常場值。
表7.1 幾種放射性法的簡單對比
續表
(2)γ能譜測量
γ能譜測量記錄的是特徵譜段的γ射線，可區分出鈾、釷、鉀等天然放射性元素和銫－137、銫－134、鈷－60等人工放射性同位素的γ輻射。其基本原理是不同放射性核素輻射出的γ射線能量是不同的，鈾系、釷系、鉀－40和人工放射性同位素的γ射線能譜存在著一定的差異，利用這種差異選擇幾個合適的譜段作能譜測量，能推算出介質中的鈾、釷、鉀和其他放射性同位素的含量。
為了推算出岩石中鈾、釷、鉀的含量，通常選擇三個能譜段，即第一道:1.3～1.6MeV;第二道:1.6～2.0MeV;第三道:2.0～2.9MeV。每一測量道的譜段范圍稱為道寬。由於第一道對應40K的γ射線能譜，第二道、第三道則分別主要反映鈾系中的214Bi和釷系中的208Tl的貢獻，故常把第一、二、三道分別稱為鉀道、鈾道和釷道。但是，鉀道既記錄了40K的貢獻，又包含有鈾、釷的貢獻。同樣，鈾道中也包含釷的貢獻。當進行環境測量時往往增設137Cs，134Cs，60Co等道。
γ能譜測量可以得到γ射線的總計數，鈾、釷、鉀含量和它們的比值(U/Th，U/K，Th/K)等數據，是一種多參數、高效率的放射性測量方法。
7.1.2.2 射氣測量
射氣測量是用射氣儀測量土壤中放射性氣體濃度的一種瞬時測氡的放射性方法。目的是發現浮土覆蓋下的鈾、釷礦體，圈定構造帶或破碎帶，劃分岩層的接觸界限。
射氣測量的對象是222Rn，220Rn，219Rn。氡放出的α射線穿透能力雖然很弱(一張紙即可擋住)，但它的運移能力卻很強。氡所到之處能有α輻射，用α輻射儀可方便測定。222Rn，220Rn的半衰期分別為3.8d和56s，前者衰變較後者慢得多，以此可加以區分。
工作時，先在測點位置打取氣孔，深約0.5～1m，再將取氣器埋入孔中，用氣筒把土壤中的氡吸入到儀器里，進行測量。測量完畢，應將儀器中的氣體排掉，以免氡氣污染儀器。
7.1.2.3 Po－210測量
Po－210法，也寫作210Po法或釙法，它是一種累積法測氡技術。210Po法是在野外採取土樣或岩樣。用電化學處理的方法把樣品中的放射性核素210Po置換到銅、銀、鎳等金屬片上，再用α輻射儀測量置換在金屬片上的210Po放出來的α射線，確定210Po的異常，用來發現深部鈾礦，尋找構造破碎帶，或解決環境與工程地質問題。
直接測氡，易受種種因素的影響，結果變化較大。測量210Pb能較好地反映當地222Rn的平均情況。210Po是一弱輻射體，不易測量，但其後210Bi(半衰期5d)的子體210Po卻有輻射較強的α輻射，半衰期長(138.4d)。因此，測210Po即可了解210Pb的情況，並較好地反映222Rn的分布規律。210Po是222Rn的子體，沿有釷的貢獻。這是和γ測量、射氣測量、α徑跡測量的不同之處。只測量210Po的α射線，而測不到Po的其他同位素放出的α射線，是因為它們的半衰期不同的緣故。
7.1.2.4 活性炭測量
活性炭法也是一種累積法測氡技術，靈敏度高，效率亦高，而技術簡單且成本低，能區分222Rn和220Rn，適用於覆蓋較厚，氣候乾旱，貯氣條件差的荒漠地區。探測深部鈾礦或解決其他有關地質問題。
活性炭測量的原理是在靜態條件下，乾燥的活性炭對氡有極強的吸附能力，並在一定情況下保持正比關系。因此，把裝有活性炭的取樣器埋在土壤里，活性炭中豐富的孔隙便能強烈地吸附土壤中的氡。一定時間後取出活性炭，測定其放射性，便可以了解該測點氡的情況，以此發現異常。
埋置活性炭之前，先在室內把活性炭裝在取樣器里，並稍加密封，以免吸附大氣中的氡。活性炭顆粒直徑約為0.4～3mm。每個取樣器里的活性炭重約數克至數十克，理置時間約為數小時至數十小時，一般為5d。時間可由實驗確定最佳值，埋置時間短，類似射氣測量;埋置時間長，類似徑跡測量，但徑跡測量除有氡的作用外，其他α輻射體也會有貢獻。活性炭測量只有氡的效果。也有把活性炭放在地面上來吸附氡的測量方法。
為了測量活性炭吸附的氡，可採取不同方法:①測量氡子體放出的γ射線;②測量氡及其子體放出的α射線。
7.1.2.5 熱釋光法
工作時，把熱釋光探測器埋在地下，使其接受α，β，γ射線的照射，熱釋光探測器將吸收它們的能量。一定時間後，取出探測器，送到實驗室，用專門的熱釋光測量儀器加熱熱釋光探測器，記錄下相應的溫度和光強。探測器所受輻射越多，其發光強度愈強。測定有關結果即可了解測點的輻射水平及放射性元素的分布情況，進而解決不同的地質問題。
自然界的礦物3/4以上有熱釋光現象。常溫條件下，礦物接受輻射獲得的能量，是能長期積累並保存下來的。只有當礦物受熱到一定程度，貯存的能量才能以光的形式釋放出來。根據礦物樣品的發光曲線，可以推算該礦物過去接受輻射的情況、溫度的情況等。
7.1.2.6 α測量法
α測量法是指通過測量氡及其衰變子體產生的α粒子的數量來尋找放射性目標體，以解決環境與工程問題的一類放射性測量方法。氡同位素及其衰變產物的α輻射是氡氣測量的主要物理基礎。
工程和環境調查中用得較多有α徑跡測量和α卡測量方法。
(1)α徑跡測量法
當α粒子射入絕緣體時，在其路徑上因輻射損傷會產生細微的痕跡，稱為潛跡(僅幾納米)。潛跡只有用電子顯微鏡才能看到。若把這種受過輻射損傷的材料浸泡在強酸或強鹼里，潛跡便會蝕刻擴大，當其直徑為微米量級時，用一般光學顯微鏡即可觀察到輻射粒子的徑跡。能產生徑跡的絕緣固體材料稱為固體徑跡探測器。α徑跡測量就是利用固體徑跡探測器探測徑跡的氡氣測量方法。
在工作地區取得大量α徑跡數據後，可利用統計方法確定該地區的徑跡底數，並據此劃分出正常場、偏高場、高場和異常場。徑跡密度大於底數加一倍均方差者為偏高場，加二倍均方差者為高場、加三倍均方差者為異常場。
(2)α卡法
α卡法是一種短期累積測氡的方法。α卡是用對氡的衰變子體(21884Po和21484Po等)具有強吸附力的材料(聚酯鍍鋁薄膜或自身帶靜電的過氯乙烯細纖維)製成的卡片，埋於土壤中，使其聚集氡子體的沉澱物，一定時間後取出卡片，立即用α輻射儀測量卡片上的α輻射，藉此測定氡的濃度。由於測量的是卡片上收集的放射性核素輻射出的α射線，所以把卡片稱作α卡，有關的方法就稱為α卡法。如果把卡片做成杯狀，則稱為α杯法，其工作原理與α卡法相同。
7.1.2.7 γ－γ法
γ－γ法是一種人工放射性法，它是利用γ射線與物質作用產生的一些效應來解決有關地質問題，常用來測定岩石、土壤的密度或岩性。
γ－γ法測定密度的原理是當γ射線通過介質時會發生康普頓效應、光電效應等過程。若γ射線的照射量率I0;γ射線穿過物質後，探測器接受到的數值為I，則I和I0之間有一復雜的關系。即I=I0·f(ρ，d，Z，E0)，其中ρ為介質的密度，d為γ源與探測器間的距離，Z為介質的原子序數，E0為入射γ射線能量。
在已知條件下做好量板，給出I/I0與ρ，d的關系曲線。在野外測出I/I0後，即可根據量板查出相應的密度值ρ。
7.1.2.8 X熒光測量
X射線熒光測量，也稱X熒光測量，是一種人工放射性方法，用來測定介質所含元素的種類和含量。其工作原理是利用人工放射性同位素放出的X射線去激活岩石礦物或土壤中的待測元素，使之產生特徵X射線(熒光)。測量這些特徵X射線的能量便可以確定樣品中元素的種類，根據特徵X射線的照射量率可測定該元素之含量。由於不同原子序數的元素放出的特徵X射線能量不同，因而可以根據其能量峰來區分不同的元素，根據其強度來確定元素含量，且可實現一次多元素測量。
根據激發源的不同，X熒光測量可分為電子激發X熒光分析、帶電粒子激發X熒光分析、電磁輻射激發X熒光分析。
X熒光測量可在現場測量，具有快速、工效高、成本低的特點。
7.1.2.9活化法
活化分析是指用中子、帶電粒子、γ射線等與樣品中所含核素發生核反應，使後者成為放射性核素(即將樣品活化)，然後測量此放射性核素的衰變特性(半衰期、射線能量、射線的強弱等)，用以確定待測樣品所含核素的種類及含量的分析技術。
若被分析樣品中某元素的一種穩定同位素X射線作用後轉化成放射性核素Y，則稱X核素被活化。活化分析就是通過測量標識射線能量、核素衰變常數、標識射線的放射性活度等數據來判斷X的存在並確定其含量。
能否進行活化分析以確定X核素存在與否，並作定量測量，關鍵在於:①X核素經某種射線照射後能否被活化，並具有足夠的放射性活度;②生成的Y核素是否具有適於測量的衰變特性，以利精確的放射性測量。
活化分析可分為中子活化分析、帶電粒子活化分析、光子活化分析等。
(1)中子活化分析
根據能量不同，中於可分為熱中子、快中子等。熱中子同原子核相互作用主要是俘獲反應，反應截面比快中子大幾個量級。反應堆的熱中子注量率一般比快中子的大幾個量級，因此熱中子活化分析更適應於痕量元素的分析。
(2)帶電粒子活化分析
常用的帶電粒子有質子、α粒子、氘核、氚核等，也有重粒子。
帶電粒子活化分析常用於輕元素，如硅、鍺、硼、碳、氮、氧等的分析。
(3)光子活化分析
常用電子直線加速器產生的高能軔致輻射來活化樣品。
㈡ 什麼情況下使用超聲波探傷它與射線探傷有何區別
在不能破壞加工表面的要求下可以使用超聲波儀器或設備來進行檢測。
一、方式不同
1、超聲波探傷：是利用超聲能透入金屬材料的深處，並由一截面進入另一截面時，在界面邊緣發生反射的特點來檢查零件缺陷的一種方法。
2、射線探傷：是利用某種射線來檢查焊縫內部缺陷的一種方法。
二、原理不同
1、超聲波探傷：波束自零件表面由探頭通至金屬內部，遇到缺陷與零件底面時就分別發生反射波，在熒光屏上形成脈沖波形，根據這些脈沖波形來判斷缺陷位置和大小。
2、射線探傷：射線通過被檢查的焊縫時，因焊縫缺陷對射線的吸收能力不同，使射線落在膠片上的強度不一樣，膠片感光程度也不一樣，這樣就能准確、可靠、非破壞性地顯示缺陷的形狀、位置和大小。
三、優缺點不同
1、超聲波探傷：穿透能力強，探測深度可達數米，要由有經驗的人員謹慎操作。
2、射線探傷：透照時間短、速度快，檢查厚度小於30mm時，顯示缺陷的靈敏度高，但設備復雜、費用大，穿透能力比γ射線小。
㈢ 射線檢驗的檢驗方法
射線檢驗因記錄或顯示介質的不同，有多種方法。常用的方法：
①膠片照相法。
用X射線膠片作為記錄介質,這種方法直觀、可靠，而且靈敏度較高。用X射線源時，分辨力較高(用γ射線源時，分辨力要低些),並能提供永久性記錄；其缺點是成本較高。
②熒光屏觀察法。
這種方法是：射線束透過物體直接照射在熒光屏上，轉換成可見的圖象。這種方法的優點是快速、簡便、檢驗費用低。但由於亮度較低，難於觀察細節，分辨力較差。因此多採用圖象增強器，使亮度提高幾千倍。如果配合工業閉路電視系統,就成為工業X射線電視。它不僅具有熒光屏觀察法的優點，而且易於實現檢驗的自動化，主要適用於形狀簡單的零部件檢查，不過靈敏度仍不如膠片照相法。
③還有一些應用較少的方法，如干板射線照相法、輻射測量法和高速射線照相法等。在醫療診斷上已用電子計算機控制的層析照相法（通稱CT），可望應用於工業。
無論採用何種射線檢驗都要加強人身安全防護。
㈣ 射線檢測和超聲波檢測的優缺點
射線檢測
利：不損傷被檢物，方便實用，可達到其他檢測手段無法達到的獨特檢測效果，使用面寬，底片長期存檔備查，便於分析事故，可以直觀的顯示缺陷圖像等。
弊；對人體有副作用甚至一定傷害，對其他敏感物體有不良作用，對環境有輻射污染；顯影定影液回收困難，直接排放會造成環境污染。
X射線探傷原理詳解
http://www.chinatesting.com.cn/gaoan/1/81.html
超聲波檢測
超聲波探傷優點是檢測厚度大、靈敏度高、速度快、成本低、對人體無害，能對缺陷進行定位和定量。超聲波探傷對缺陷的顯示不直觀，探傷技術難度大，容易受到主客觀因素影響，以及探傷結果不便於保存，超聲波檢測對工作表面要求平滑，要求富有經驗的檢驗人員才能辨別缺陷種類、適合於厚度較大的零件檢驗，使超聲波探傷也具有其局限性。
超聲波探傷儀的種類繁多，但脈沖反射式超聲波探傷儀應用最廣。一般在均勻材料中，缺陷的存在將造成材料不連續，這種不連續往往有造成聲阻抗的不一致，由反射定理我們知道，超聲波在兩種不同聲阻抗的介質的界面上會發生反射。反射回來的能量的大小與交界面兩邊介質聲阻抗的差異和交界面的取向、大小有關。脈沖反射式超聲波探傷儀就是根據這個原理設計的。
脈沖反射式超聲波探傷儀大部分都是A掃描式的，所謂A掃描顯示方式即顯示器的橫坐標是超聲波在被檢測材料中的傳播時間或者傳播距離，縱坐標是超聲波反射波的幅值。譬如，在一個工件中存在一個缺陷，由於缺陷的存在，造成了缺陷和材料之間形成了一個不同介質之間的交界面，交界面之間的聲阻抗不同，當發射的超聲波遇到這個界面之後就會發生反射，反射回來的能量又被探頭接收到，在顯示器屏幕中橫坐標的一定的位置就會顯示出來一個反射波的波形，橫坐標的這個位置就是缺陷波在被檢測材料中的深度。這個反射波的高度和形狀因不同的缺陷而不同，反映了缺陷的性質。
超聲波檢測網路
http://ke..com/view/1253433.htm
㈤ 射線檢測與其他無損檢測手段的比較
希望幫到你
射線檢測 是利用射線對材料或試件進行透照，檢查其內部缺陷或根據衍射特性對其晶體結構進行分析的技術。目前射線檢測可以分為：照相檢測、實時成像檢測、層析檢測和其它射線檢測技術四類。
最能與射線檢測比較的是超聲波檢測，兩者都是對工件內部進行檢測的方法，但是不同之處在於射線檢測對工件內的與射線束方向垂直且薄的缺陷（工件表面平行的薄面積缺陷）檢測靈敏度很低會漏檢，而超聲波檢測恰好相反，超聲波對（工件表面垂直的缺陷）檢測靈敏度很低會漏檢。
其他的磁粉檢測、滲透檢測、渦流檢測都是對工件的表面檢測的方法，不能檢測到內部缺陷。
射線檢測最明顯的優勢就是檢測後有可以追溯可查的檢測射線底片，具有良好的保存效果，做到有據可查，但是射線檢測需要放射作業，安全要求較高，檢測成本大，檢測速度慢。
㈥ x-ray檢測設備工作原理是什麼
x-ray檢測設備的工作原理
1.1基本原理 X-ray檢測設備通過x光線穿透待檢測樣品，然後在圖像探測器上映射出一個X光影像。該影像的形成質量主要由解析度及對比度決定。成像系統的解析度取決於X射線。
x-ray檢測設備是通過高壓加速電子撞擊金屬板釋放出的x-ray穿透樣品，留下影像，技術人員通過影像的明暗度來觀測樣品的相關細節。如上圖所示可以檢測PCB線路斷開，IC缺陷，錫球開裂等一系列的異常。
1.基本概要
x-ray檢測設備通過x光穿透待檢測樣品，然後在圖像探測器上映射出一個X光影像，該影像的形成質量主要由解析度及對比度決定，一般來說x-ray檢測儀的光管性能起著非常大的作用，目前卓茂光電的x-ray設備全都採用日本進口濱松HAMAMATSU作為核心部件。
2.x射線管
x射線管主要提供電子從熱陰極通過電場，向陽極加速的作用。當電子在幾十千伏的高壓下迅速提速到高速狀態，撞擊到陽極體時動能轉化釋放出X射線。碰撞區域的大小就是X射線源的大小，通過小孔成像原理，我們可以粗略的得知x射線源的大小與清晰度成反比，即x-ray射線源越小，成像越清晰。
3.x射線探測器
x射線探測器彌補了過去化學膠片成像的不足，通過探測器可以節省成本的同時提升效率。
㈦ X射線探傷檢測是運用射線穿透被檢驗物質,檢查是否存在缺陷,X射線穿能力取決於
X射線探傷是指利用X射線能夠穿透金屬材料，並由於材料對射線的吸收和散射作用的不同，從而使膠片感光不一樣，於是在底片上形成黑度不同的影像，據此來判斷材料內部缺陷情況的一種檢驗方法。
中文名
X射線探傷
外文名
X-ray radiographic inspection
設備
射線源、射線膠片等
方法
X射線照相法等
應用
零部件探傷等
快速
導航
原理
設備
方法
簡述
X射線能在無損檢驗技術中得到廣泛應用的主要原因是：它能穿透可見光不能穿透的物質；它在物質中具有衰減作用和衰減規律；它能對某些物質發生光化學作用、電離作用和熒光現象。而且這些作用都將隨著X射線強度的增加而增加。
X射線探傷是利用材料厚度不同對X射線吸收程度的差異，通過用X射線透視攝片法和工業電視實時成像，從軟片和成像上顯出材料、零部件及焊縫的內部缺陷。如裂紋、縮孔、氣孔、夾渣、未溶合、未焊透等，確定位置和大小。根據觀察其缺陷的性質、大小和部位來評定材料或製品的質量，從而防止由於材料內部缺陷、加工不良而引起的重大事故。
原理
X射線探傷是利用X射線可以穿透物質和在物質中具有衰減的特性，發現缺陷的一種無損檢測方法。X射線的波長很短一般為0.001～0.1nm。X射線以光速直線傳播，不受電場和磁場的影響，可穿透物質，在穿透過程中有衰減，能使膠片感光。
當X射線穿透物質時，由於射線與物質的相互作用，將產生一系列極為復雜的物理過程，其結果使射線被吸收和散射而失去一部分能量，強度相應減弱，這種現象稱之為射線的衰減。X射線探傷的實質是根據被檢驗工件與其內部缺陷介質對射線能量衰減程度不同，而引起射線透過工件後強度差異，使感光材料（膠片）上獲得缺陷投影所產生的潛影，經過暗室處理後獲得缺陷影像，再對照標准評定工件內部缺陷的性質和底片級別。[1]
設備
(1)射線源
X射線機是X射線探傷的主要設備。國產X射線探傷機已系列化，分為移動式和攜帶型兩大類。
(2)射線膠片
X射線膠片是一種片基兩面均塗有結合層、乳劑層和保護層的專用膠片。一般按照乳劑中銀鹽顆粒度由小到大的順序將膠片分為、、三種。銀鹽粒度越小缺陷影像越真切，但感光速度變慢，曝光量會成倍增加。因此，只有目的在於檢測細小裂紋等缺陷時才選用微粒或超微粒的膠片。一般要求的選用級膠片用於感光速度快，照相質量要求不高的情況。鍋爐壓力容器選擇膠片。
(3)增感屏
射線膠片對射線的吸收率是很低的，一般只能吸收射線強度的1%，其餘絕大部分射線穿過膠片而損失掉，這將使透照時間大大延長。為了提高膠片的感光速度，縮短曝光時間，通常在膠片兩側夾以增感屏。
金屬增感屏是由金屬箔粘合在紙基或膠片基上製成。金屬增感屏有前後屏之分，與射線膠片緊密接觸，布置在先於膠片接受射線照射者稱前屏，後於膠片接受射線照射者稱後屏。增感屏被射線透射後可產生二次電子和二次射線，增加對膠片的感光作用。同時它對波長較長的散射線又有吸收作用（又稱濾波作用），減小散射線引起的灰霧度，提高了底片的成像質量。
(4)線型象質計
象質計是用來檢查透照技術和膠片處理質量的。衡量該質量的數值是象質指數，它等於底片上能識別出的最細鋼絲線的編號。使用線型象質計時要注意以下幾方面：
1)線型象質計應放在射線源一側的工件表面被檢焊縫區長度1/4處，鋼絲應橫跨焊縫並與焊縫軸線垂直，細鋼絲置於外側。當射線源一側無法放置象質計時，也可放在膠片一側的工件表面上，但應通過對比試驗，使實際象質指數值達到規定的要求。
2)象質計放在膠片一側工件表面上時，象質計應附加「F」標記，以示區別。
3)採用射線源置於圓心位置的周向曝光技術時，象質計應放在內壁，每隔90°放一個。
另外，射線探傷系統的組成還包括鉛罩、鉛光闌、鉛遮板、底部鉛板、暗盒、標記帶，其中標記帶可使每張射線底片與工件被檢部位能始終對照。[1]
方法
X射線探傷除照相法外，還有X射線熒光屏觀察法、電視觀察法。
1．X射線照相法
這種方法是用感光膠片代替熒光觀察法的熒光屏，當膠片被X射線照射而感光後，復經顯影，即可顯現出不同的感光程度。若射線的強度越大，則膠片的感光越多，顯影後的黑度就越大。當某處與周圍對比的黑度較大時，則可確認存在缺陷。照相法的靈敏度高、適應性強，同時膠片可長期保存待查。但程序較多、費時、成本較高。
2．X射線熒光屏觀察法
X射線透過被檢查物體後，把不同強度的射線，再投射在塗有熒光物質的熒光屏上，激發出不同強度的熒光而得到物體的影像。如果我們能直接從熒光屏上觀察缺陷影像，就稱為X射線熒光屏觀察法。
熒光屏觀察法與照相法的不同點：
熒光屏上所看到的缺陷影像是發亮的，而在底片上見到的缺陷影像是暗黑的；
前者不用暗室處理，因而暗室處理影響其影像質量的因素不存在，但其它因素與照相法同；
熒光屏上的熒光物質與照相法中增感屏上的熒光物質不同，它要求這種物質所發熒光對人的眼睛最靈敏。
熒光屏觀察法能對工件連續檢查，並能迅速得出結果。因此能節省大量的軟片與工時，成本低。但是，熒光屏觀察法的靈敏度要低一些。由於它不能像照相法那樣把射線的能量積累起來，它只能檢查較薄的結構簡單的工件。
熒光屏觀察法所用的設備是X射線發生器及其控制設備；熒光觀察屏；觀察和記錄用的輔助沒備；防護及傳送設備等。[2]
3．X射線電視觀察法
X射線照相法既費工時，又不經濟，不適宜於批量生產的工廠。然而，X射線熒光屏觀察法由於成象的光亮度差、靈敏度低，並且大多在熒光透視箱內進行，故也未廣泛採用。隨著光電微光技術的發展，微光象增強器和攝象管得到重視和廣泛應用。
X射線電視觀察法的優點是可以直接觀察副物體內部在靜態和動態下的情況，並能多次觀察；不需照相法那一套處理系統；可以流水作業；快速。
此法的不足之處是靈敏度比照相法低；圖象增強管接受輻射能量只達160kV左右，因而受到一定限制；由於泄露輻射的影響，檢測幾何形狀較為復雜的零件較為困難
㈧ 檢測焊縫的X射線探傷跟超聲波探傷有什麼不同優劣在哪裡國家標准指縫焊管需要把兩種都做嗎
X射線探傷成本高，效率低，但缺陷形狀直觀
超聲波成本地，效率高，檢測不是很直觀，認為因素比較多，
對於焊管，應該是100%超聲，X射線抽檢