㈠ 放射性测量方法
放射性测量方法按放射源不同可分为两大类:一类是天然放射性方法，主要有γ测量法、α测量法等;另一类是人工放射性方法，主要有X射线荧光法、中子法等。表7.1给出了几种放射性测量方法的简单对比。
7.1.2.1 γ测量
γ测量法是利用辐射仪或能谱仪测量地表岩石或覆盖层中放射性核素产生的γ射线，根据射线能量的不同判别不同的放射性元素，而根据活度的不同确定元素的含量。γ测量可分为航空γ测量、汽车γ测量、地面(步行)γ测量和γ测井，其物理基础都是相同的。
根据所记录的γ射线能量范围的不同，γ测量可分为γ总量测量和γ能谱测量。
(1)γ总量测量
γ总量测量简称γ测量，它探测的是超过某一能量阈值的铀、钍、钾等的γ射线的总活度。γ总量测量常用的仪器是γ闪烁辐射仪，它的主要部分是闪烁计数器。闪烁体被入射的γ射线照射时会产生光子，光子经光电倍增管转换后，成为电信号输出，由此可记录γ射线的活度。γ辐射仪测到的γ射线是测点附近岩石、土壤的γ辐射、宇宙射线的贡献以及仪器本身的辐射及其他因素的贡献三项之和，其中后两项为γ辐射仪自然底数(或称本底)。要定期测定仪器的自然底数，以便求出与岩石、土壤有关的γ辐射。岩石中正常含量的放射性核素所产生的γ射线活度称为正常底数或背景值，各种岩石有不同的正常底数，可以按统计方法求取，作为正常场值。
表7.1 几种放射性法的简单对比
续表
(2)γ能谱测量
γ能谱测量记录的是特征谱段的γ射线，可区分出铀、钍、钾等天然放射性元素和铯－137、铯－134、钴－60等人工放射性同位素的γ辐射。其基本原理是不同放射性核素辐射出的γ射线能量是不同的，铀系、钍系、钾－40和人工放射性同位素的γ射线能谱存在着一定的差异，利用这种差异选择几个合适的谱段作能谱测量，能推算出介质中的铀、钍、钾和其他放射性同位素的含量。
为了推算出岩石中铀、钍、钾的含量，通常选择三个能谱段，即第一道:1.3～1.6MeV;第二道:1.6～2.0MeV;第三道:2.0～2.9MeV。每一测量道的谱段范围称为道宽。由于第一道对应40K的γ射线能谱，第二道、第三道则分别主要反映铀系中的214Bi和钍系中的208Tl的贡献，故常把第一、二、三道分别称为钾道、铀道和钍道。但是，钾道既记录了40K的贡献，又包含有铀、钍的贡献。同样，铀道中也包含钍的贡献。当进行环境测量时往往增设137Cs，134Cs，60Co等道。
γ能谱测量可以得到γ射线的总计数，铀、钍、钾含量和它们的比值(U/Th，U/K，Th/K)等数据，是一种多参数、高效率的放射性测量方法。
7.1.2.2 射气测量
射气测量是用射气仪测量土壤中放射性气体浓度的一种瞬时测氡的放射性方法。目的是发现浮土覆盖下的铀、钍矿体，圈定构造带或破碎带，划分岩层的接触界限。
射气测量的对象是222Rn，220Rn，219Rn。氡放出的α射线穿透能力虽然很弱(一张纸即可挡住)，但它的运移能力却很强。氡所到之处能有α辐射，用α辐射仪可方便测定。222Rn，220Rn的半衰期分别为3.8d和56s，前者衰变较后者慢得多，以此可加以区分。
工作时，先在测点位置打取气孔，深约0.5～1m，再将取气器埋入孔中，用气筒把土壤中的氡吸入到仪器里，进行测量。测量完毕，应将仪器中的气体排掉，以免氡气污染仪器。
7.1.2.3 Po－210测量
Po－210法，也写作210Po法或钋法，它是一种累积法测氡技术。210Po法是在野外采取土样或岩样。用电化学处理的方法把样品中的放射性核素210Po置换到铜、银、镍等金属片上，再用α辐射仪测量置换在金属片上的210Po放出来的α射线，确定210Po的异常，用来发现深部铀矿，寻找构造破碎带，或解决环境与工程地质问题。
直接测氡，易受种种因素的影响，结果变化较大。测量210Pb能较好地反映当地222Rn的平均情况。210Po是一弱辐射体，不易测量，但其后210Bi(半衰期5d)的子体210Po却有辐射较强的α辐射，半衰期长(138.4d)。因此，测210Po即可了解210Pb的情况，并较好地反映222Rn的分布规律。210Po是222Rn的子体，沿有钍的贡献。这是和γ测量、射气测量、α径迹测量的不同之处。只测量210Po的α射线，而测不到Po的其他同位素放出的α射线，是因为它们的半衰期不同的缘故。
7.1.2.4 活性炭测量
活性炭法也是一种累积法测氡技术，灵敏度高，效率亦高，而技术简单且成本低，能区分222Rn和220Rn，适用于覆盖较厚，气候干旱，贮气条件差的荒漠地区。探测深部铀矿或解决其他有关地质问题。
活性炭测量的原理是在静态条件下，干燥的活性炭对氡有极强的吸附能力，并在一定情况下保持正比关系。因此，把装有活性炭的取样器埋在土壤里，活性炭中丰富的孔隙便能强烈地吸附土壤中的氡。一定时间后取出活性炭，测定其放射性，便可以了解该测点氡的情况，以此发现异常。
埋置活性炭之前，先在室内把活性炭装在取样器里，并稍加密封，以免吸附大气中的氡。活性炭颗粒直径约为0.4～3mm。每个取样器里的活性炭重约数克至数十克，理置时间约为数小时至数十小时，一般为5d。时间可由实验确定最佳值，埋置时间短，类似射气测量;埋置时间长，类似径迹测量，但径迹测量除有氡的作用外，其他α辐射体也会有贡献。活性炭测量只有氡的效果。也有把活性炭放在地面上来吸附氡的测量方法。
为了测量活性炭吸附的氡，可采取不同方法:①测量氡子体放出的γ射线;②测量氡及其子体放出的α射线。
7.1.2.5 热释光法
工作时，把热释光探测器埋在地下，使其接受α，β，γ射线的照射，热释光探测器将吸收它们的能量。一定时间后，取出探测器，送到实验室，用专门的热释光测量仪器加热热释光探测器，记录下相应的温度和光强。探测器所受辐射越多，其发光强度愈强。测定有关结果即可了解测点的辐射水平及放射性元素的分布情况，进而解决不同的地质问题。
自然界的矿物3/4以上有热释光现象。常温条件下，矿物接受辐射获得的能量，是能长期积累并保存下来的。只有当矿物受热到一定程度，贮存的能量才能以光的形式释放出来。根据矿物样品的发光曲线，可以推算该矿物过去接受辐射的情况、温度的情况等。
7.1.2.6 α测量法
α测量法是指通过测量氡及其衰变子体产生的α粒子的数量来寻找放射性目标体，以解决环境与工程问题的一类放射性测量方法。氡同位素及其衰变产物的α辐射是氡气测量的主要物理基础。
工程和环境调查中用得较多有α径迹测量和α卡测量方法。
(1)α径迹测量法
当α粒子射入绝缘体时，在其路径上因辐射损伤会产生细微的痕迹，称为潜迹(仅几纳米)。潜迹只有用电子显微镜才能看到。若把这种受过辐射损伤的材料浸泡在强酸或强碱里，潜迹便会蚀刻扩大，当其直径为微米量级时，用一般光学显微镜即可观察到辐射粒子的径迹。能产生径迹的绝缘固体材料称为固体径迹探测器。α径迹测量就是利用固体径迹探测器探测径迹的氡气测量方法。
在工作地区取得大量α径迹数据后，可利用统计方法确定该地区的径迹底数，并据此划分出正常场、偏高场、高场和异常场。径迹密度大于底数加一倍均方差者为偏高场，加二倍均方差者为高场、加三倍均方差者为异常场。
(2)α卡法
α卡法是一种短期累积测氡的方法。α卡是用对氡的衰变子体(21884Po和21484Po等)具有强吸附力的材料(聚酯镀铝薄膜或自身带静电的过氯乙烯细纤维)制成的卡片，埋于土壤中，使其聚集氡子体的沉淀物，一定时间后取出卡片，立即用α辐射仪测量卡片上的α辐射，借此测定氡的浓度。由于测量的是卡片上收集的放射性核素辐射出的α射线，所以把卡片称作α卡，有关的方法就称为α卡法。如果把卡片做成杯状，则称为α杯法，其工作原理与α卡法相同。
7.1.2.7 γ－γ法
γ－γ法是一种人工放射性法，它是利用γ射线与物质作用产生的一些效应来解决有关地质问题，常用来测定岩石、土壤的密度或岩性。
γ－γ法测定密度的原理是当γ射线通过介质时会发生康普顿效应、光电效应等过程。若γ射线的照射量率I0;γ射线穿过物质后，探测器接受到的数值为I，则I和I0之间有一复杂的关系。即I=I0·f(ρ，d，Z，E0)，其中ρ为介质的密度，d为γ源与探测器间的距离，Z为介质的原子序数，E0为入射γ射线能量。
在已知条件下做好量板，给出I/I0与ρ，d的关系曲线。在野外测出I/I0后，即可根据量板查出相应的密度值ρ。
7.1.2.8 X荧光测量
X射线荧光测量，也称X荧光测量，是一种人工放射性方法，用来测定介质所含元素的种类和含量。其工作原理是利用人工放射性同位素放出的X射线去激活岩石矿物或土壤中的待测元素，使之产生特征X射线(荧光)。测量这些特征X射线的能量便可以确定样品中元素的种类，根据特征X射线的照射量率可测定该元素之含量。由于不同原子序数的元素放出的特征X射线能量不同，因而可以根据其能量峰来区分不同的元素，根据其强度来确定元素含量，且可实现一次多元素测量。
根据激发源的不同，X荧光测量可分为电子激发X荧光分析、带电粒子激发X荧光分析、电磁辐射激发X荧光分析。
X荧光测量可在现场测量，具有快速、工效高、成本低的特点。
7.1.2.9活化法
活化分析是指用中子、带电粒子、γ射线等与样品中所含核素发生核反应，使后者成为放射性核素(即将样品活化)，然后测量此放射性核素的衰变特性(半衰期、射线能量、射线的强弱等)，用以确定待测样品所含核素的种类及含量的分析技术。
若被分析样品中某元素的一种稳定同位素X射线作用后转化成放射性核素Y，则称X核素被活化。活化分析就是通过测量标识射线能量、核素衰变常数、标识射线的放射性活度等数据来判断X的存在并确定其含量。
能否进行活化分析以确定X核素存在与否，并作定量测量，关键在于:①X核素经某种射线照射后能否被活化，并具有足够的放射性活度;②生成的Y核素是否具有适于测量的衰变特性，以利精确的放射性测量。
活化分析可分为中子活化分析、带电粒子活化分析、光子活化分析等。
(1)中子活化分析
根据能量不同，中于可分为热中子、快中子等。热中子同原子核相互作用主要是俘获反应，反应截面比快中子大几个量级。反应堆的热中子注量率一般比快中子的大几个量级，因此热中子活化分析更适应于痕量元素的分析。
(2)带电粒子活化分析
常用的带电粒子有质子、α粒子、氘核、氚核等，也有重粒子。
带电粒子活化分析常用于轻元素，如硅、锗、硼、碳、氮、氧等的分析。
(3)光子活化分析
常用电子直线加速器产生的高能轫致辐射来活化样品。
㈡ 什么情况下使用超声波探伤它与射线探伤有何区别
在不能破坏加工表面的要求下可以使用超声波仪器或设备来进行检测。
一、方式不同
1、超声波探伤：是利用超声能透入金属材料的深处，并由一截面进入另一截面时，在界面边缘发生反射的特点来检查零件缺陷的一种方法。
2、射线探伤：是利用某种射线来检查焊缝内部缺陷的一种方法。
二、原理不同
1、超声波探伤：波束自零件表面由探头通至金属内部，遇到缺陷与零件底面时就分别发生反射波，在荧光屏上形成脉冲波形，根据这些脉冲波形来判断缺陷位置和大小。
2、射线探伤：射线通过被检查的焊缝时，因焊缝缺陷对射线的吸收能力不同，使射线落在胶片上的强度不一样，胶片感光程度也不一样，这样就能准确、可靠、非破坏性地显示缺陷的形状、位置和大小。
三、优缺点不同
1、超声波探伤：穿透能力强，探测深度可达数米，要由有经验的人员谨慎操作。
2、射线探伤：透照时间短、速度快，检查厚度小于30mm时，显示缺陷的灵敏度高，但设备复杂、费用大，穿透能力比γ射线小。
㈢ 射线检验的检验方法
射线检验因记录或显示介质的不同，有多种方法。常用的方法：
①胶片照相法。
用X射线胶片作为记录介质,这种方法直观、可靠，而且灵敏度较高。用X射线源时，分辨力较高(用γ射线源时，分辨力要低些),并能提供永久性记录；其缺点是成本较高。
②荧光屏观察法。
这种方法是：射线束透过物体直接照射在荧光屏上，转换成可见的图象。这种方法的优点是快速、简便、检验费用低。但由于亮度较低，难于观察细节，分辨力较差。因此多采用图象增强器，使亮度提高几千倍。如果配合工业闭路电视系统,就成为工业X射线电视。它不仅具有荧光屏观察法的优点，而且易于实现检验的自动化，主要适用于形状简单的零部件检查，不过灵敏度仍不如胶片照相法。
③还有一些应用较少的方法，如干板射线照相法、辐射测量法和高速射线照相法等。在医疗诊断上已用电子计算机控制的层析照相法（通称CT），可望应用于工业。
无论采用何种射线检验都要加强人身安全防护。
㈣ 射线检测和超声波检测的优缺点
射线检测
利：不损伤被检物，方便实用，可达到其他检测手段无法达到的独特检测效果，使用面宽，底片长期存档备查，便于分析事故，可以直观的显示缺陷图像等。
弊；对人体有副作用甚至一定伤害，对其他敏感物体有不良作用，对环境有辐射污染；显影定影液回收困难，直接排放会造成环境污染。
X射线探伤原理详解
http://www.chinatesting.com.cn/gaoan/1/81.html
超声波检测
超声波探伤优点是检测厚度大、灵敏度高、速度快、成本低、对人体无害，能对缺陷进行定位和定量。超声波探伤对缺陷的显示不直观，探伤技术难度大，容易受到主客观因素影响，以及探伤结果不便于保存，超声波检测对工作表面要求平滑，要求富有经验的检验人员才能辨别缺陷种类、适合于厚度较大的零件检验，使超声波探伤也具有其局限性。
超声波探伤仪的种类繁多，但脉冲反射式超声波探伤仪应用最广。一般在均匀材料中，缺陷的存在将造成材料不连续，这种不连续往往有造成声阻抗的不一致，由反射定理我们知道，超声波在两种不同声阻抗的介质的界面上会发生反射。反射回来的能量的大小与交界面两边介质声阻抗的差异和交界面的取向、大小有关。脉冲反射式超声波探伤仪就是根据这个原理设计的。
脉冲反射式超声波探伤仪大部分都是A扫描式的，所谓A扫描显示方式即显示器的横坐标是超声波在被检测材料中的传播时间或者传播距离，纵坐标是超声波反射波的幅值。譬如，在一个工件中存在一个缺陷，由于缺陷的存在，造成了缺陷和材料之间形成了一个不同介质之间的交界面，交界面之间的声阻抗不同，当发射的超声波遇到这个界面之后就会发生反射，反射回来的能量又被探头接收到，在显示器屏幕中横坐标的一定的位置就会显示出来一个反射波的波形，横坐标的这个位置就是缺陷波在被检测材料中的深度。这个反射波的高度和形状因不同的缺陷而不同，反映了缺陷的性质。
超声波检测网络
http://ke..com/view/1253433.htm
㈤ 射线检测与其他无损检测手段的比较
希望帮到你
射线检测 是利用射线对材料或试件进行透照，检查其内部缺陷或根据衍射特性对其晶体结构进行分析的技术。目前射线检测可以分为：照相检测、实时成像检测、层析检测和其它射线检测技术四类。
最能与射线检测比较的是超声波检测，两者都是对工件内部进行检测的方法，但是不同之处在于射线检测对工件内的与射线束方向垂直且薄的缺陷（工件表面平行的薄面积缺陷）检测灵敏度很低会漏检，而超声波检测恰好相反，超声波对（工件表面垂直的缺陷）检测灵敏度很低会漏检。
其他的磁粉检测、渗透检测、涡流检测都是对工件的表面检测的方法，不能检测到内部缺陷。
射线检测最明显的优势就是检测后有可以追溯可查的检测射线底片，具有良好的保存效果，做到有据可查，但是射线检测需要放射作业，安全要求较高，检测成本大，检测速度慢。
㈥ x-ray检测设备工作原理是什么
x-ray检测设备的工作原理
1.1基本原理 X-ray检测设备通过x光线穿透待检测样品，然后在图像探测器上映射出一个X光影像。该影像的形成质量主要由分辨率及对比度决定。成像系统的分辨率取决于X射线。
x-ray检测设备是通过高压加速电子撞击金属板释放出的x-ray穿透样品，留下影像，技术人员通过影像的明暗度来观测样品的相关细节。如上图所示可以检测PCB线路断开，IC缺陷，锡球开裂等一系列的异常。
1.基本概要
x-ray检测设备通过x光穿透待检测样品，然后在图像探测器上映射出一个X光影像，该影像的形成质量主要由分辨率及对比度决定，一般来说x-ray检测仪的光管性能起着非常大的作用，目前卓茂光电的x-ray设备全都采用日本进口滨松HAMAMATSU作为核心部件。
2.x射线管
x射线管主要提供电子从热阴极通过电场，向阳极加速的作用。当电子在几十千伏的高压下迅速提速到高速状态，撞击到阳极体时动能转化释放出X射线。碰撞区域的大小就是X射线源的大小，通过小孔成像原理，我们可以粗略的得知x射线源的大小与清晰度成反比，即x-ray射线源越小，成像越清晰。
3.x射线探测器
x射线探测器弥补了过去化学胶片成像的不足，通过探测器可以节省成本的同时提升效率。
㈦ X射线探伤检测是运用射线穿透被检验物质,检查是否存在缺陷,X射线穿能力取决于
X射线探伤是指利用X射线能够穿透金属材料，并由于材料对射线的吸收和散射作用的不同，从而使胶片感光不一样，于是在底片上形成黑度不同的影像，据此来判断材料内部缺陷情况的一种检验方法。
中文名
X射线探伤
外文名
X-ray radiographic inspection
设备
射线源、射线胶片等
方法
X射线照相法等
应用
零部件探伤等
快速
导航
原理
设备
方法
简述
X射线能在无损检验技术中得到广泛应用的主要原因是：它能穿透可见光不能穿透的物质；它在物质中具有衰减作用和衰减规律；它能对某些物质发生光化学作用、电离作用和荧光现象。而且这些作用都将随着X射线强度的增加而增加。
X射线探伤是利用材料厚度不同对X射线吸收程度的差异，通过用X射线透视摄片法和工业电视实时成像，从软片和成像上显出材料、零部件及焊缝的内部缺陷。如裂纹、缩孔、气孔、夹渣、未溶合、未焊透等，确定位置和大小。根据观察其缺陷的性质、大小和部位来评定材料或制品的质量，从而防止由于材料内部缺陷、加工不良而引起的重大事故。
原理
X射线探伤是利用X射线可以穿透物质和在物质中具有衰减的特性，发现缺陷的一种无损检测方法。X射线的波长很短一般为0.001～0.1nm。X射线以光速直线传播，不受电场和磁场的影响，可穿透物质，在穿透过程中有衰减，能使胶片感光。
当X射线穿透物质时，由于射线与物质的相互作用，将产生一系列极为复杂的物理过程，其结果使射线被吸收和散射而失去一部分能量，强度相应减弱，这种现象称之为射线的衰减。X射线探伤的实质是根据被检验工件与其内部缺陷介质对射线能量衰减程度不同，而引起射线透过工件后强度差异，使感光材料（胶片）上获得缺陷投影所产生的潜影，经过暗室处理后获得缺陷影像，再对照标准评定工件内部缺陷的性质和底片级别。[1]
设备
(1)射线源
X射线机是X射线探伤的主要设备。国产X射线探伤机已系列化，分为移动式和便携式两大类。
(2)射线胶片
X射线胶片是一种片基两面均涂有结合层、乳剂层和保护层的专用胶片。一般按照乳剂中银盐颗粒度由小到大的顺序将胶片分为、、三种。银盐粒度越小缺陷影像越真切，但感光速度变慢，曝光量会成倍增加。因此，只有目的在于检测细小裂纹等缺陷时才选用微粒或超微粒的胶片。一般要求的选用级胶片用于感光速度快，照相质量要求不高的情况。锅炉压力容器选择胶片。
(3)增感屏
射线胶片对射线的吸收率是很低的，一般只能吸收射线强度的1%，其余绝大部分射线穿过胶片而损失掉，这将使透照时间大大延长。为了提高胶片的感光速度，缩短曝光时间，通常在胶片两侧夹以增感屏。
金属增感屏是由金属箔粘合在纸基或胶片基上制成。金属增感屏有前后屏之分，与射线胶片紧密接触，布置在先于胶片接受射线照射者称前屏，后于胶片接受射线照射者称后屏。增感屏被射线透射后可产生二次电子和二次射线，增加对胶片的感光作用。同时它对波长较长的散射线又有吸收作用（又称滤波作用），减小散射线引起的灰雾度，提高了底片的成像质量。
(4)线型象质计
象质计是用来检查透照技术和胶片处理质量的。衡量该质量的数值是象质指数，它等于底片上能识别出的最细钢丝线的编号。使用线型象质计时要注意以下几方面：
1)线型象质计应放在射线源一侧的工件表面被检焊缝区长度1/4处，钢丝应横跨焊缝并与焊缝轴线垂直，细钢丝置于外侧。当射线源一侧无法放置象质计时，也可放在胶片一侧的工件表面上，但应通过对比试验，使实际象质指数值达到规定的要求。
2)象质计放在胶片一侧工件表面上时，象质计应附加“F”标记，以示区别。
3)采用射线源置于圆心位置的周向曝光技术时，象质计应放在内壁，每隔90°放一个。
另外，射线探伤系统的组成还包括铅罩、铅光阑、铅遮板、底部铅板、暗盒、标记带，其中标记带可使每张射线底片与工件被检部位能始终对照。[1]
方法
X射线探伤除照相法外，还有X射线荧光屏观察法、电视观察法。
1．X射线照相法
这种方法是用感光胶片代替荧光观察法的荧光屏，当胶片被X射线照射而感光后，复经显影，即可显现出不同的感光程度。若射线的强度越大，则胶片的感光越多，显影后的黑度就越大。当某处与周围对比的黑度较大时，则可确认存在缺陷。照相法的灵敏度高、适应性强，同时胶片可长期保存待查。但程序较多、费时、成本较高。
2．X射线荧光屏观察法
X射线透过被检查物体后，把不同强度的射线，再投射在涂有荧光物质的荧光屏上，激发出不同强度的荧光而得到物体的影像。如果我们能直接从荧光屏上观察缺陷影像，就称为X射线荧光屏观察法。
荧光屏观察法与照相法的不同点：
荧光屏上所看到的缺陷影像是发亮的，而在底片上见到的缺陷影像是暗黑的；
前者不用暗室处理，因而暗室处理影响其影像质量的因素不存在，但其它因素与照相法同；
荧光屏上的荧光物质与照相法中增感屏上的荧光物质不同，它要求这种物质所发荧光对人的眼睛最灵敏。
荧光屏观察法能对工件连续检查，并能迅速得出结果。因此能节省大量的软片与工时，成本低。但是，荧光屏观察法的灵敏度要低一些。由于它不能像照相法那样把射线的能量积累起来，它只能检查较薄的结构简单的工件。
荧光屏观察法所用的设备是X射线发生器及其控制设备；荧光观察屏；观察和记录用的辅助没备；防护及传送设备等。[2]
3．X射线电视观察法
X射线照相法既费工时，又不经济，不适宜于批量生产的工厂。然而，X射线荧光屏观察法由于成象的光亮度差、灵敏度低，并且大多在荧光透视箱内进行，故也未广泛采用。随着光电微光技术的发展，微光象增强器和摄象管得到重视和广泛应用。
X射线电视观察法的优点是可以直接观察副物体内部在静态和动态下的情况，并能多次观察；不需照相法那一套处理系统；可以流水作业；快速。
此法的不足之处是灵敏度比照相法低；图象增强管接受辐射能量只达160kV左右，因而受到一定限制；由于泄露辐射的影响，检测几何形状较为复杂的零件较为困难
㈧ 检测焊缝的X射线探伤跟超声波探伤有什么不同优劣在哪里国家标准指缝焊管需要把两种都做吗
X射线探伤成本高，效率低，但缺陷形状直观
超声波成本地，效率高，检测不是很直观，认为因素比较多，
对于焊管，应该是100%超声，X射线抽检